科学级相机Alta U9000 噪声的测试与分析
  • 【摘要】

    CCD在成像过程中不可避免的引入一定的噪声。这些噪声将对以图像检测为基础的CCD各种工程应用带来误差。本文分析了各种CCD噪声的来源及其数学性质,并对科学级CCD Alta U9000的各种噪声进行了量化分析,给出了暗电流噪声、成像电路噪声及随机噪声的变化规律。对不同积分时间的图像进行了噪声抑制实验。实验证明,根据对U9000 CCD噪声的预先测试数据,其噪声中的暗电流噪声、成像电路噪声等系统噪声... 展开>>CCD在成像过程中不可避免的引入一定的噪声。这些噪声将对以图像检测为基础的CCD各种工程应用带来误差。本文分析了各种CCD噪声的来源及其数学性质,并对科学级CCD Alta U9000的各种噪声进行了量化分析,给出了暗电流噪声、成像电路噪声及随机噪声的变化规律。对不同积分时间的图像进行了噪声抑制实验。实验证明,根据对U9000 CCD噪声的预先测试数据,其噪声中的暗电流噪声、成像电路噪声等系统噪声可以得到很大的抑制,而随机噪声无法抑制。 收起<<

  • 【作者】

    原玉磊  蒋理兴  刘灵杰 

  • 【作者单位】

    信息工程大学测绘学院

  • 【会议名称】

    2011大地测量学术年会暨第六届全国大地测量研究生学术论坛

  • 【会议时间】

    2011-08-01

  • 【会议地点】

    淄博

  • 【主办单位】

    中国测绘学会

  • 【语种】

    chi

  • 【关键词】

    数字测图  CCD成像  数据处理  噪声抑制