用SEM分析肼对高岭石的插层作用
  • 【摘要】

    本文采用肼插层高岭石,应用电镜研究插层前后高岭土粒度的变化,以望这种化学插层、机械研磨及烘干清除插层剂的方法成为高岭石的超细化方法.

  • 【作者】

    陈洁渝  严春杰  谌祺 

  • 【作者单位】

    中国地质大学测试中心(湖北武汉)

  • 【会议名称】

    第十二届全国电子显微学会议

  • 【会议时间】

    2002-08-19

  • 【会议地点】

    太原

  • 【主办单位】

    中国物理学会

  • 【语种】

    chi

  • 【关键词】

    高岭石  肼插层  粒度变化  电镜观察