C-V法向列相液晶弹性常数测量系统的设计与实现
  • 【摘要】

    本文提出一种通过改进偏压测试液晶电容,准确求得弹性常数的方法,并设计开发了测试系统.该系统由计算机控制PCI-1712产生偏压波形并实时采集数据,由单片机、D/A转换器等基于伏安法测试电容.初测结果表明,本测试系统可较准确测得向列相液晶的阈值电压、介电常数和弹性常数等参数.

  • 【作者】

    孔祥建  王百金  李文明  荆海 

  • 【作者单位】

    中国科学院

  • 【会议名称】

    2008中国平板显示学术会议

  • 【会议时间】

    2008-03-10

  • 【会议地点】

    上海

  • 【主办单位】

    中国物理学会   中国光学光电子行业协会

  • 【语种】

    chi

  • 【关键词】

    向列相液晶  弹性常数  介电常数  阈值电压