钼系列生产过程中钼粉、二氧化钼、三氧化钼、钼酸铵的分析中,有些杂质在ppm级,必须采用ICP-AES测定.必须采用基体匹配法消除基体钼的干扰,为此采用湖南株洲硬质合金厂研制的三氧化钼光谱标样建立各杂质元素的工作曲线,称为"多点法工作曲线";并研究出了数据处理的"简易校正法",得到可靠的终值.
沈雪明 沈永妹 孟欢
无锡市金义博仪器科技有限公司
2008年中国机械工程学会年会暨甘肃省学术年会
2008-07-18
兰州
中国机械工程学会
chi
ICP-AES测定 钼系列材料测定 杂质元素 多点法工作曲线 简易校正法 数据处理 电感耦合 等离子体原子发射光谱法