电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钼系列生产材料中19种杂质元素

【摘要】
钼系列生产过程中钼粉、二氧化钼、三氧化钼、钼酸铵的分析中,有些杂质在ppm级,必须采用ICP-AES测定.必须采用基体匹配法消除基体钼的干扰,为此采用湖南株洲硬质合金厂研制的三氧化钼光谱标样建立各杂质元素的工作曲线,称为"多点法工作曲线";并研究出了数据处理的"简易校正法",得到可靠的终值.
【作者】
沈雪明沈永妹孟欢
【作者单位】
无锡市金义博仪器科技有限公司
【会议名称】
2008年中国机械工程学会年会暨甘肃省学术年会
【会议时间】
2008-07-18
【会议地点】
兰州
【主办单位】
中国机械工程学会
【语种】
chi
【关键词】
ICP-AES测定钼系列材料测定杂质元素多点法工作曲线简易校正法数据处理电感耦合等离子体原子发射光谱法