烧结矿粒度对X-射线荧光光谱分析的影响
  • 【摘要】

    本文阐述了利用X-射线荧光光谱仪压片法分析烧结矿中的TFe,CaO,MgO,SiO2.综合仪器的动、静态、压片精度等,选择仪器的最佳工作条件和最佳工作曲线,通过粒度控制分析TFe,CaO,MgO,SiO2.本方法样品研磨成180目以上时粒度效应减小,分析结果与湿法分析结果吻合,完全能满足实验室分析和生产的测定要求.

  • 【作者】

    王立新 

  • 【作者单位】

    河北津西钢铁股份有限公司质检中心,河北唐山

  • 【会议名称】

    2008年国际冶金及材料分析测试学术报告会

  • 【会议时间】

    2008-11-04

  • 【会议地点】

    北京

  • 【主办单位】

    中国金属学会

  • 【语种】

    chi

  • 【关键词】

    X-射线荧光光谱  压片法  粒度控制  烧结矿粒度