PIV 用于微尺度滑移长度测量的问题
  • 【摘要】

    本文简单介绍了滑移边界条件的基本概念、测量壁面滑移的实验方法,着重分析了焦平面厚度等几个重要因素在MicroPIV壁面滑移测量中的影响.根据实验发现的近壁粒子浓度非线性分布现象,解释了测量速度偏大的可能原因.

  • 【作者】

    李战华  郑旭 

  • 【作者单位】

    中国科学院力学研究所LNM

  • 【会议名称】

    第七届全国流动显示学术会议

  • 【会议时间】

    2008-10-01

  • 【会议地点】

    北京

  • 【主办单位】

    中国空气动力学会

  • 【语种】

    chi

  • 【关键词】

    滑移边界条件  微尺度滑移测量  长度测量  PIV技术  焦平面厚度