超声TOFD检测盲区及分辨率的计算与改善方法
  • 【摘要】

    超声TOFD检测在我国已逐步应用于设备检测和缺陷定量.本文利用TOFD检测中等效深度的概念来计算盲区及分辨率.通过综合考虑探头频率、角度、直径、探头中心距及激发脉冲宽度等多方面的因素来分析盲区、分辨率的产生原因,并提出相应的改善方法.

  • 【作者】

    齐杰 

  • 【作者单位】

    安徽省合肥市长江西路888号,合肥通用机械研究院

  • 【会议名称】

    2008年安徽省科协年会机械工程分年会

  • 【会议时间】

    2008-11-29

  • 【会议地点】

    合肥

  • 【主办单位】

    安徽省机械工程学会   中国机械工程学会

  • 【语种】

    chi

  • 【关键词】

    超声TOFD检测  检测盲区  分辨率  计算方法  设备检测