二次电子倍增器歧视效应研究和计数法建立
  • 【摘要】

    热表面电离质谱(TIMS)采用二次电子倍增器(SEM)积分模拟模式测量条件下,研究了SEM的质量歧视效应和强度歧视效应,测量了质量歧视校正因子,建立了强度歧视效应基本可以忽略的测量方法.为实现弱信号的准确测量,建立了SEM离子计数测量模式,应用钚标样测量检验比较了SEM积分模拟模式和离子计数模式测量结果,在控制离子流强度的条件下,SEM积分模拟模式测量经质量校正的结果和离子计数模式测量的结果均与标... 展开>>热表面电离质谱(TIMS)采用二次电子倍增器(SEM)积分模拟模式测量条件下,研究了SEM的质量歧视效应和强度歧视效应,测量了质量歧视校正因子,建立了强度歧视效应基本可以忽略的测量方法.为实现弱信号的准确测量,建立了SEM离子计数测量模式,应用钚标样测量检验比较了SEM积分模拟模式和离子计数模式测量结果,在控制离子流强度的条件下,SEM积分模拟模式测量经质量校正的结果和离子计数模式测量的结果均与标样标称值在不确定度范围内符合.SEM离子计数测量模式的研制实现了TIMS对弱信号的高准确分析. 收起<<

  • 【作者】

    徐江  王群书  李志明  张佳梅  翟利华  万可友  周国庆  邓虎  任向军  朱凤蓉 

  • 【作者单位】

    西北核技术研究所

  • 【会议名称】

    中国质谱学会无机、同位素、仪器与教育委员会2009联合学术交流年会

  • 【会议时间】

    2009-11-06

  • 【会议地点】

    北京

  • 【主办单位】

    中国物理学会

  • 【语种】

    chi

  • 【关键词】

    质谱分析  电子倍增器  歧视效应  计数模式