FPGA可配置资源测试方法研究
  • 【摘要】

    FPGA是广泛应用于集成电路设计等多种领域的关键器件之一,随着FPGA的迅速发展,对FPGA的测试得到了广泛重视和研究,其测试技术也越来越复杂.本文以XILINX公司的Virtex XCV300E器件为基础,研究了基于V93000 SOC测试系统的FPGA器件测试技术,为FPGA的应用级测试提供了一种有效的方法.

  • 【作者】

    刘倩  吴丹  章婷  沈森祖 

  • 【作者单位】

    武汉数字工程研究所

  • 【会议名称】

    2010国防计量与测试学术交流会

  • 【会议时间】

    2010-09-01

  • 【会议地点】

    武汉

  • 【主办单位】

    中国宇航学会

  • 【语种】

    chi

  • 【关键词】

    FPGA测试  可测试性设计  配置  测试向量