X射线荧光光谱分析化探样品中多种元素方法研究
  • 【摘要】

    本文采用粉末压片制样,用x射线荧光光谱法测定土壤、水系沉积物等样品中C、N、F、S、Cl、Br、Na、Mg、Al、Si、P、K、Ca、Ti、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Pb、Ga、As、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Th、U、Ba、La、Ce、Nd、Ge、Yb、W、Hf、Sc、Sn、Mo、Cs等42种元素。着重研究了C、N、F、S和Cl等元素的测量条件,存在问题;还研究了痕量元素的背景选择和... 展开>>本文采用粉末压片制样,用x射线荧光光谱法测定土壤、水系沉积物等样品中C、N、F、S、Cl、Br、Na、Mg、Al、Si、P、K、Ca、Ti、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Pb、Ga、As、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Th、U、Ba、La、Ce、Nd、Ge、Yb、W、Hf、Sc、Sn、Mo、Cs等42种元素。着重研究了C、N、F、S和Cl等元素的测量条件,存在问题;还研究了痕量元素的背景选择和谱线重叠校正的问题。方法的检出限,精密度和准确度绝大多数能满足覆盖区多目标地球化学调查样品的质量要求。 收起<<

  • 【作者】

    张勤  李国会  樊守忠  潘宴山 

  • 【作者单位】

    中国地质科学院物化探研究所,河北廊坊

  • 【会议名称】

    荷兰帕纳科公司第九届用户经验交流会

  • 【会议时间】

    2006-09-11

  • 【主办单位】

    帕纳科X射线分析仪器用户协会

  • 【语种】

    chi

  • 【关键词】

    土壤和水系沉积物  X射线荧光光谱法  粉末样品压片