1976年应力应变测定的回顾
  • 【摘要】

    该文总结了1976年测定应力应变的各种方法,有电阻应变计测定应变的方法,其中研究了用于低温和高温的聚酰亚胺量规及底座材用石棉的高温箔应变量规,相适应的温度分别力-196℃,250℃,300℃,并用应变量规来测量冲击应变和冲击力.最远用扩散型半导体传感器,尤其是硅薄膜型压力传感器.光弹性应力分析法有二元,三元光弹性应力分析法,光弹性涂膜法,光弹性皮膜法和莫尔条纹法并用测量应变法,及用微小格子法测定龟... 展开>>该文总结了1976年测定应力应变的各种方法,有电阻应变计测定应变的方法,其中研究了用于低温和高温的聚酰亚胺量规及底座材用石棉的高温箔应变量规,相适应的温度分别力-196℃,250℃,300℃,并用应变量规来测量冲击应变和冲击力.最远用扩散型半导体传感器,尤其是硅薄膜型压力传感器.光弹性应力分析法有二元,三元光弹性应力分析法,光弹性涂膜法,光弹性皮膜法和莫尔条纹法并用测量应变法,及用微小格子法测定龟裂前端的应变,即在试验片上刻有微小格子(1英寸有1000个),可直接变 收起<<

  • 【作者】

    张仁岐 

  • 【刊期】

    稀有金属材料与工程 ISTIC EI PKU 1978年2期

  • 【关键词】

    应力应变  压力传感器  应力涂料  相适应  应变测定  半导体传感器  光弹性应力分析  莫尔条纹  电阻应变计  应变量