梨表面色泽的可见/近红外漫反射光谱无损检测研究
  • 【摘要】

    应用可见/近红外漫反射光谱对梨表面色泽进行无损检测研究.在350~1800NM光谱区间,结合梨的原始吸收光谱和标准化光谱,采用多元线性回归(MLR)、主成分回归(PCR)和偏最小二乘回归(PLSR)三种数学校正算法进行了定量对比分析.原始吸收光谱应用偏最小二乘回归建立的定标模型对24个未知样品的预测结果是:L*、A*、B*预测均方差分别为1.4251,0.4569和0.9497;相对预测偏差分别为... 展开>>应用可见/近红外漫反射光谱对梨表面色泽进行无损检测研究.在350~1800NM光谱区间,结合梨的原始吸收光谱和标准化光谱,采用多元线性回归(MLR)、主成分回归(PCR)和偏最小二乘回归(PLSR)三种数学校正算法进行了定量对比分析.原始吸收光谱应用偏最小二乘回归建立的定标模型对24个未知样品的预测结果是:L*、A*、B*预测均方差分别为1.4251,0.4569和0.9497;相对预测偏差分别为3.7404%,3.3571%和2.5877%.实验结果表明:可见/近红外光谱技术对梨表面色泽的无损检测具有可行性. 收起<<

  • 【作者】

    刘燕德  陈兴苗  欧阳爱国 

  • 【作者单位】

    江西农业大学/江西农业大学

  • 【刊期】

    红外与毫米波学报 ISTIC EI PKU 2008年4期

  • 【关键词】

    可见/近红外漫反射光谱  无损检测  校正算法  表面色泽   

  • 【基金项目】

    教育部跨世纪优秀人才培养计划(NECT-06-0575) 国家自然科学基金(30560064)