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  • 11. 同位素窄电离带质谱分析

  • 【来源】

    [期刊论文] 《原子能科学技术》1985年2期

  • 【作者】

    邓中国  李华璋  刘炳寰 

  • 【摘要】

    本工作采用0.4 mm宽的窄电离带,减小了由于电离带表面高温热辐射引起的本底干扰.在电离带和样品带的加热电流分别为4.0 A和1.8 A条件下,用5μg氧化铁样品可以获得10~(-13)A稳定的离子束流近1小时.用这种方法测定了电磁...

  • 【关键词】

    铁同位素  窄电离带  丰度 

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