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  • 5. 常规X射线荧光微区分析方法研究及在地质样品中应用的可行性探讨

  • 【来源】

    [学位论文] 中国地质大学(武汉) - 2010 - 硕士 - 化学

  • 【作者】

    朱华兴 
  • 【摘要】

    X射线荧光(XRF)光谱分析具有无损、快速、精密度好、制样简单、多元素同时分析及基体校正方法成熟等优点,被广泛应用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等众多领域,现已成为材料科学、生命科学...