学科筛选

  • 18. X射线荧光光谱法测定工业硅中铁、铝、钙

  • 【来源】

    [期刊论文] 《光谱学与光谱分析》2001年4期

  • 【作者】

    谷松海  李旭辉 

  • 【摘要】

    通过压片法制备样片,用X射线荧光光谱法测量工业硅中铁、铝、钙.探讨了样片制备条件,并通过加入粘接剂提高了样片牢固度.用经验系数法进行元素间增强和吸收校正.经对样品制备精密度及测量准确度分析,X射线荧光光谱法测...

  • 【关键词】

    X射线荧光光谱  工业硅 

  • 40条记录,
  • 共2页
  • 下页
  • 末页
  • / 2跳转

年度命中数

的趋势