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  • 20. 烧结矿X射线荧光光谱分析方法研究

  • 【来源】

    [会议论文] 帕纳科中国第十届X射线分析仪器用户技术交流会 - 2008

  • 【作者】

    袁奕秋 
  • 【摘要】

    本文根据X射线荧光光谱分析技术的基本原理,技术特点,仪器结构,通过实验确定用X射线荧光光谱法分析二氧化硅、氧化钙、氧化镁、三氧化二铝的分析条件及制样方法,并应用于烧结矿的日常分析。

  • 【关键词】

    X射线荧光光谱仪  烧结矿 
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